“全内反射荧光显微术”的概念、定义、翻译、参考文献-科学参考

单词	全内反射荧光显微术
释义	全内反射荧光显微术 Encyclopedia 理学生物物理学释 total internal reflection fluorescence microscopy; TIRFM全内反射荧光显微术通过利用全内反射产生的消逝波进行激发，将样品处激发区域限制在玻片表面100纳米左右范围以内，从而能够很大程度上减少背景荧光干扰，增强信噪比的荧光显微成像技术。
随便看	WKBJ approximation, Wentzel-Kramers-Brillouin-Jeffreys approximation WKB[J] approximation, Wentzel-Kramers-Brillouin[-Jeffreys] approximation WKBJ method WKBJ方法 WKBJ近似 WKB[J]近似 W.K.B method WKB method WKB solution WKBZ WKB方法 WKB解 W.K.B近似 WKB近似 WKB逼近 W. K. Clliford W.-K. Clliford W.-K. Clliford (1845—1879) W. K. Hayman W. K. Hayman (1926—) W. K. Heisenberg W. K. Heisenberg (1901—1976) W. K. J. Killing W. K. J. Killing (1847—1923) W. K. Rontgen

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