“scanning electron microscopy”的概念、定义、翻译、参考文献-科学参考

单词	scanning electron microscopy
释义	scanning electron microscopy Encyclopedia 工学[电子显微术]释 scanning electron microscopy扫描电子显微术以能量为0.240千电子伏的电子束作为微束激发源（又称一次束），以光栅状扫描方式照射到试样的表面上，通过对入射电子和试样表面物质的相互作用所产生的各种信息（又称二次束）的检测，以实现对有关微区的形态、成分和结晶学等的分析技术。全称为扫描电子显微分析术。
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